யங்கின் குறுக்கீட்டு சோதனை

கட்டற்ற கலைக்களஞ்சியமான விக்கிப்பீடியாவில் இருந்து.
Jump to navigation Jump to search
இரு பிளவு சோதனையில் ஒளியோ அல்லது எலக்ட்ரானோ அதன் அலை பண்பினை வெளிபடுதுதல்.

யங்கின் குறுக்கீட்டு சோதனை (Young's interference experiment) என்பது ஒளியின் அலைப் பண்பினை விளக்க உதவும் ஓர் எளிய அமைப்பாகும்.

ஓர் ஒளிரும் பொருளுக்கு முன் சிறு துளையுள்ள ஒரு அட்டையினை வைக்கவும். இதன் வழியாக வெளிப்படும் ஒளிக்கற்றை மற்றொரு அட்டையிலிருக்கும் இரு அடுத்தடுத்த துளைகளில் விழுமாறு அமைக்கவும். இந்த இரு துளைகளும் எல்லா வகையிலும் ஒத்த இரு ஒளித் தோற்றுவாய்களாக அமைகின்றன. இந்த இரண்டாவது அட்டையிலிருந்து சிறிய தொலைவில் ஒரு வெண் திரையினை அமைத்தால், அத்திரையில் குறுக்கீட்டுப் பட்டைகளை (Interference bands) காணலாம். இது தெளிவாக ஒளியின் அலை பண்பினைக் காட்டுகிறது.